X熒光光譜儀主要用途
x熒光光譜儀根據(jù)各元素的特征X射線的強(qiáng)度，也可以獲得各元素的含量信息。
近年來(lái)，X熒光光譜分析在各行業(yè)應(yīng)用范圍不斷拓展，已成為一種廣泛應(yīng)用于冶金、地質(zhì)、有色、建材、商檢、環(huán)保、衛(wèi)生等各個(gè)領(lǐng)域，特別是在RoHS檢測(cè)領(lǐng)域應(yīng)用得zui多也zui廣泛。
大多數(shù)分析元素均可用其進(jìn)行分析，可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品，分析范圍為Be到U。并且具有分析速度快、測(cè)量范圍寬、干擾小的特點(diǎn)。
X熒光光譜儀制樣要求
樣品的zui大尺寸（直徑x高）50x 40mm，zui大重量400g。
1、定量分析
定量分析是對(duì)樣品中元素進(jìn)行準(zhǔn)確定量測(cè)定。定量分析需要一組標(biāo)準(zhǔn)樣品做參考。常規(guī)定量分析一般需要5個(gè)以上的標(biāo)準(zhǔn)樣品才能建立較可靠的工作曲線。
常規(guī)X射線熒光光譜定量分析對(duì)標(biāo)準(zhǔn)樣品的基本要求：
?。?）組成標(biāo)準(zhǔn)樣品的元素種類與未知樣相似（相同）；（2）標(biāo)準(zhǔn)樣品中所有組分的含量應(yīng)該已知；（3）未知樣中所有被測(cè)元素的濃度包含在標(biāo)準(zhǔn)樣品中被測(cè)元素的含量范圍中；（4）標(biāo)準(zhǔn)樣品的狀態(tài)（如粉末樣品的顆粒度、固體樣品的表面光潔度以及被測(cè)元素的化學(xué)態(tài)等）應(yīng)和未知樣一致，或能夠經(jīng)適當(dāng)?shù)姆椒ㄌ幚沓梢恢隆?/div>
標(biāo)準(zhǔn)樣品可以向研制和經(jīng)營(yíng)標(biāo)準(zhǔn)樣品的機(jī)構(gòu)（如美國(guó)的NIST等）購(gòu)買(mǎi)，如果買(mǎi)不到合適的標(biāo)準(zhǔn)樣品，可以委托分析人員研制，但應(yīng)考慮費(fèi)用和時(shí)間的承受能力。
2、定性分析與半定量分析
定性分析和半定量分析不需要標(biāo)準(zhǔn)樣品，可以進(jìn)行非破壞分析。半定量分析的準(zhǔn)確度與樣品本身有關(guān)，如樣品的均勻性、塊狀樣品表面是否光滑平整、粉末樣品的顆粒度等，不同元素半定量分析的準(zhǔn)確度可能不同，因?yàn)榘攵糠治龅撵`敏度庫(kù)并未包括所有元素。同一元素在不同樣品中，半定量分析的準(zhǔn)確度也可能不同。大部分主量元素的半定量分析結(jié)果相對(duì)不確定度可以達(dá)到10%（95%置信水平）以下，某些情況下甚至接近定量分析的準(zhǔn)確度。
半定量分析適用于：對(duì)準(zhǔn)確度要求不是很高，要求速度特別快（30min以內(nèi)可以出結(jié)果），缺少合適的標(biāo)準(zhǔn)樣品，非破壞性分析等情況。
另外，分析樣品中，除要求分析的感興趣元素外，其他元素或組分的含量也必須預(yù)先知道。如Li2O-B2O3-SiO2系的玻璃，由于常規(guī)不能分析Li2O和B2O3，所以必須用其他方法（如AA，ICP-AES等）測(cè)出它們的含量，然后用X射線熒光光譜法測(cè)定其他元素。
