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X熒光光譜儀的原理

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X熒光光譜儀的原理
  色散系統(tǒng)
  初級(jí)X射線照射樣品后樣品會(huì)發(fā)出由各組成元素生成的混雜在一起的多色次級(jí)X射線色散系統(tǒng)的任務(wù)就是要將某一待測(cè)元素從上述混雜線中分離出來(lái)送入探測(cè)器檢測(cè)。
  單道掃描型波長(zhǎng)色散X熒光光譜儀是采用平行光結(jié)構(gòu)它的分光元件準(zhǔn)直器和平面晶體以及探測(cè)器都安裝在測(cè)角儀裝置上試樣位置不變測(cè)定時(shí)晶體和探測(cè)器分別對(duì)來(lái)自試樣的次級(jí)射線作θ和2θ的相對(duì)運(yùn)動(dòng)這時(shí)所需檢測(cè)的譜線就被分離出來(lái)并被檢出。
  單道掃描型儀器在測(cè)定時(shí)是一個(gè)元素測(cè)完后再測(cè)一個(gè)元素的因此測(cè)定周期較長(zhǎng)但是它的測(cè)定范圍很廣只要配置足夠的晶體和探測(cè)器幾乎可測(cè)定所有元素。
  準(zhǔn)直器
  準(zhǔn)直器分為入射和出射兩種入射準(zhǔn)直器交換器上可放4個(gè)可程控選擇我公司的熒光儀有3個(gè)細(xì)準(zhǔn)直器0.15°,中粗準(zhǔn)直器0.25°,粗準(zhǔn)直器0.6°。輕元素由于熒光產(chǎn)額低選粗準(zhǔn)直器,重元素譜線復(fù)雜選細(xì)準(zhǔn)直器,出射準(zhǔn)器僅一個(gè)裝在探測(cè)器上。
  準(zhǔn)直器又稱索拉狹縫(SollerSlit)是由平行的薄金屬片組成,它的作用是使從樣品來(lái)的次級(jí)射線經(jīng)入射準(zhǔn)直器后成為平行光束射入平行晶體,然后經(jīng)分光后再通過(guò)出射準(zhǔn)直器準(zhǔn)直后射入探測(cè)器檢測(cè)。
  晶體:
  晶體交換器上可放9塊晶體,可程控選擇,我公司的熒光儀有4塊,分別是AXO6、PET、Lif200、Lif220。晶體是指內(nèi)部結(jié)構(gòu)中的分子、原子和離子都有規(guī)律地在三維空間成周期性排列而組成一定形式的晶格所組成的一種物質(zhì)在外形上晶體表現(xiàn)為一定形狀的幾何多面體組成這種幾何多面體的平面稱晶面。晶體都具有一定的對(duì)稱性而且是一種均一的各向異性體。
  晶體衍射和穩(wěn)定性
  具有符合某些條件時(shí)晶面才反射X射線這種選擇性反射稱為衍射。
  布拉格定律指出如果在晶面間距為d的晶格面上反射波長(zhǎng)為λ的X射線那么這個(gè)波與相鄰平面反射的波在路程上相差“2dsinθ‘的距離當(dāng)這段距離的長(zhǎng)度是波長(zhǎng)的整數(shù)倍時(shí)反射的X射線被加強(qiáng)否則它們互相抵消。
  布拉格Bragg公式nλ=2dsinθ根據(jù)這一公式就可以通過(guò)改變衍射角將多波長(zhǎng)X射線中某一特定的波長(zhǎng)從其他波長(zhǎng)中衍射出來(lái),達(dá)到分光的目的。
  晶體的穩(wěn)定性由于溫度變化時(shí),晶面會(huì)膨脹或收縮使2d值改變,根據(jù)Bragg公式在θ角不變時(shí)測(cè)到的波長(zhǎng)發(fā)生變化,數(shù)據(jù)就發(fā)生波動(dòng),PET晶體是對(duì)溫度zui敏感的晶體,為了保證數(shù)據(jù)的穩(wěn)定提高測(cè)量精度,必須在恒溫下進(jìn)行。
  X射線衍射的分析
  X射線衍射的分析(XRD)系統(tǒng)測(cè)量的是經(jīng)衍射后的來(lái)自X光管發(fā)射的某一特定波長(zhǎng),這個(gè)特定波長(zhǎng)的光是被待測(cè)樣品中存在的晶體晶面所衍射,它是用來(lái)測(cè)定樣品中的化合物而完成樣品分析. XRD原理:來(lái)自X射線管的原級(jí)X射線,經(jīng)一初級(jí)準(zhǔn)直器將X光形成幾乎是平行光柱射入試樣并被衍射,從試樣射出的衍射光進(jìn)一步被一個(gè)二次準(zhǔn)直器準(zhǔn)直,射向一個(gè)適當(dāng)?shù)木w經(jīng)衍射后進(jìn)入出射準(zhǔn)直器再進(jìn)入探測(cè)器就檢測(cè)出不同結(jié)構(gòu)的物相。

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