近年來X熒光光譜儀在各個(gè)行業(yè)領(lǐng)域中不斷拓展，已經(jīng)為廣泛應(yīng)用于治金、地質(zhì)、環(huán)保、建材等領(lǐng)域中。
X熒光光譜儀優(yōu)點(diǎn)
a) 分析速度高。測定用時(shí)與測定精密度有關(guān)，但一般都很短，2～5分鐘就可以測完樣品中的全部待測元素。
b) X射線熒光光譜跟樣品的化學(xué)結(jié)合狀態(tài)無關(guān)，而且跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒有關(guān)系。(氣體密封在容器內(nèi)也可分析)但是在高分辨率的精密測定中卻可看到有波長變化等現(xiàn)象。特別是在超軟X射線范圍內(nèi)，這種效應(yīng)更為顯著。波長變化用于化學(xué)位的測定 。
c) 非破壞分析。在測定中不會(huì)引起化學(xué)狀態(tài)的改變，也不會(huì)出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復(fù)多次測量，結(jié)果重現(xiàn)性好。
d) X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對(duì)在化學(xué)性質(zhì)上屬同一族的元素也能進(jìn)行分析。
e) 分析精密度高。
f) 制樣簡單，固體、粉末、液體樣品等都可以進(jìn)行分析。
X熒光光譜儀缺點(diǎn)
a)難于作分析，故定量分析需要標(biāo)樣。
b)對(duì)輕元素的靈敏度要低一些。
c)容易受相互元素干擾和疊加峰影響。
X熒光光譜儀 -主要用途：
1.熒光激發(fā)光譜和熒光發(fā)射光譜
2.同步熒光(波長和能量)掃描光譜
3.3D(Ex Em Intensity)
4.Time Base和CWA(固定波長單點(diǎn)測量)
5.熒光壽命測量，包括壽命分辨及時(shí)間分辨
6.計(jì)算機(jī)采集光譜數(shù)據(jù)和處理數(shù)據(jù)(Datamax和Gram32)
X熒光光譜儀性能
性能無疑是評(píng)估光譜儀非常重要的指針性能優(yōu)異的光譜儀做篩選檢測能準(zhǔn)確無誤地排查合格和不合格，并將不確定的灰色部分壓縮到zui小;
有的光譜儀鉛砷不分、鎘的特征譜線與X光管銠電極的特征譜線重迭等。經(jīng)常誤判;
有的光譜儀檢測鎘的靈敏度不夠高，不能準(zhǔn)確判定鎘;
大部分光譜儀的檢測穩(wěn)定性受到X光管老化、環(huán)境溫度、電源波動(dòng)等影響，使數(shù)值不準(zhǔn)。
由于性能不足，可能發(fā)生錯(cuò)判、誤判、無法判定等事件頻發(fā)，不確定的灰色部分比例大增。其后果必然是成本顯著提高、風(fēng)險(xiǎn)增加。
