產品介紹

一、前言

       近年來，隨著人們消費意識的不斷提升，人們對珠寶首飾的質量及真假越來越重視，然而社會上“假珠寶”、“假黃金”等不良現象時常發(fā)生，使珠寶首飾商家與消費者之間的信任危機越來越突出，珠寶首飾的檢測鑒定也越來越受到商家及消費者的關注。西凡科技積極響應市場需求，結合多年的貴金屬檢測技術和經驗，自主研發(fā)生產出了一系列X射線熒光光譜檢測儀，可以幫助珠寶首飾商家規(guī)避交易風險，提升自身競爭力和社會形象，從而帶來更多的營業(yè)收入。

二、解決方案

       zuijia的金銀首飾無損檢測方法

       在貴金屬檢測領域，傳統(tǒng)的分析方法如試金石法、灰吹法、火試金法等都屬于破壞性檢測，具有消耗性和危險性，且樣品的制備過程耗時更長。而X射線熒光光譜法的技術相對成熟，可以達到即時分析,無損檢測,不需要任何耗材,并且檢測精度可以達到小數點后四位數，是我國普及型貴金屬檢測技術的發(fā)展方向。

       X射線熒光光譜法（XRF）的工作原理是利用X射線激發(fā)被測物體表面,使得其表面原子發(fā)生能級躍遷,利用探測器接收到X射線,然后通過能譜圖對比分析出元素成份。

性能特點

無損：無損檢測，不需要任何耗材

精準：美國進口Si-PIN探測器，對所有元素均能精準檢測

便捷：集成工業(yè)計算機，雙觸摸屏顯示設計，操作流暢便捷

快速：3秒內可對樣品定性識別，60秒內可得出測試結果

直觀：高清晰圖形即時顯示，檢測結果直觀明了

安全：加裝防輻射裝置，主動保護操作人員安全

技術參數

設備原理：X熒光能量色散

元素分析：全元素

檢出限：100ppm（zuijia基體效應）

測量精度：±10PPM～0.1%

擴展不確定度：≤0.19%

鍍層測量：鍍層厚度范圍<30um

X射線源：Mo靶的X射線光管 風冷（無輻射）

探測器：Si-PIN探測器(美國進口)

分辨率：145Kev±5

攝像頭：高清晰攝像定位系統(tǒng)

軟件：菜單式軟件，帶硬件參數調整和數據評估及計算

高壓器：0～50Kv(進口)

溫度：-11～46℃

電壓：100～127V或220～240V，50/60Hz

zui大功率：144W

主體結構：高強度金屬支架+工程塑料外殼

重量：33公斤

尺寸：670*400*330mm

標準配置

主動式射線保護

高壓過壓保護

光管過熱保護

全局故障診斷

升降壓預啟動

擴展屏(3.2/4.3)

擴展線材及輔助支架

我們的服務

從售前、售中到售后，為客戶提供一條龍的周到服務。

1、售前咨詢：關注客戶應用需求，提供合理專業(yè)的解決方案，或者邀請客戶現場體驗操作等。

2、操作培訓：為客戶提供完整的產品操作手冊，并通過線上或者上門的方式為客戶提供安裝指導和操作培訓。

3、客戶回訪：定期回訪客戶，聽取客戶的建議，幫助客戶解決實際操作過程中遇到的問題。

4、產品保修：所有產品均實行國家三包政策，保修一年，三個月包換，終身維護。

5、升級服務：終身為客戶提供免費的軟件升級服務。