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X熒光光譜鍍層測(cè)厚儀，型號(hào)：XRF-D7，標(biāo)配美國進(jìn)口新一代SI-P探測(cè)儀，測(cè)試范圍：硫S-鈾U.鍍層分析厚度范圍：0.0035um--40um。

型號(hào)：XRF-D7

更新日期：2015-09-21

￥119000

X熒光光譜鍍層測(cè)厚儀，型號(hào)：XRF-D8，標(biāo)配美國進(jìn)口SDD探測(cè)器，測(cè)試范圍：鎂Mg-鈾U.鍍層分析厚度范圍：0.0035um--40um。

型號(hào)：XRF-D8

更新日期：2015-09-21

￥169000

目前常用的鍍層檢測(cè)方法主要有楔切法、光截法、電解法、厚度差測(cè)量法、稱重法、X射線熒光光譜法等。前五種方法要損壞產(chǎn)品或產(chǎn)品表面，是屬于有損檢測(cè)，測(cè)量手段繁瑣，速度慢。而X射線熒光光譜法的技術(shù)相對(duì)成熟，可以達(dá)到即時(shí)分析,無損檢測(cè),不需要任何耗材,并且檢測(cè)精度可以達(dá)到小數(shù)點(diǎn)后四位數(shù)，是我國普及型貴金屬檢測(cè)技術(shù)的發(fā)展方向。西凡科技生產(chǎn)的鍍層檢測(cè)儀使用的就是X射線熒光光譜法這一*的檢測(cè)技術(shù)。

型號(hào)：XRF-9500

更新日期：2015-11-07

￥129000

金屬鍍層厚度分析儀標(biāo)配美國進(jìn)口新一代SI-P探測(cè)儀，測(cè)試范圍：硫S-鈾U.鍍層分析厚度范圍：0.0035um--40um。

型號(hào)：XRF-D7

更新日期：2016-11-09

￥面議